發布時間:2022-05-23 12:29:38  訪問次數:452
發布人:優洱士電腦維修
 
消息稱華為將展示新型 3D DRAM 成果,與中科院合作開發
5 月 23 日消息,華為此前發布了一篇介紹存儲器的文章 ——《華為麒麟帶你一圖看懂存儲器》。在文章最后華為表示,隨著芯片尺寸的不斷微縮,DRAM 工藝的微縮變得越來越困難,平面 DRAM 的“摩爾定律”正在逐漸走向極限,當今各大廠商都在研究 3D DRAM 作為解決方案來延續 DRAM 的使用。
多個日本媒體表示,華為將在 VLSI Symposium 2022(6 月 12 日~17 日在夏威夷舉行)上發表其與中科院微電子研究所合作開發的 3D DRAM 技術,進行各種有關內存的演示。
報道稱,華為與中科院方面開發了基于銦鎵鋅氧 IGZO-FET(由 In、Ga、Zn、O 組成的透明氧化物)材料的 CAA(Channel-All-Around)構型晶體管 3D DRAM 技術,具有出色的溫度穩定性和可靠性。
IGZO 是一種不算陌生的氧化物,早在 2004 年就由東京工業大學的細野教授發現并發表在《自然》雜志上。
▲ CAA 型 IGZO FET 垂直截面 SEM 圖像和 EDX 可視化元素分布(圖源:VLSI symposium)
除華為之外,日媒還表示 IBM、三星、英特爾、Meta、斯坦福大學、喬治亞理工學院等都將提出存儲領域的新突破。
華為此前已在存儲領域進行深度研究,此前就表示要針對數據存儲領域關鍵根技術進行突破。
根據此前報道,在去年舉辦的 IEDM 2021 上,中科院微電子所李泠研究員團隊聯合華為 / 海思團隊,首次提出了新型垂直環形溝道器件結構(CAA),該結構有效減小了器件面積,且支持多層堆疊,通過將上下兩個 CAA 器件直接相連,每個存儲單元的尺寸可減小至 4F2,使 IGZO-DRAM 擁有了密度優勢,有望克服傳統 1T1C-DRAM 的微縮挑戰。