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發布時間:2022-01-08 18:00:41  訪問次數:469

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愛德萬:芯片晶圓測試設備交期逾半年,2nm 將于 2024 年試產

愛德萬測試舉行媒體交流會,公司中國臺灣地區董事長暨總經理吳萬錕表示,目前設備交期最少半年以上,芯片短缺問題預估要到第 4 季可漸緩解,對于先進制程,預估 2 納米先進制程可望在 2024 年試產,2025 年量產,帶動測試設備需求恢復成長動能可期。

愛德萬

  對于半導體長短料狀況,吳萬錕表示,測試設備商用到半導體零組件數量不大,但在半導體前段制造的優先順序居劣勢,供貨因此仍吃緊,預期短缺狀況到第 3 季末到第 4 季可漸緩解,目前測試設備交期最少半年以上。

  對于先進晶圓測試設備布局,吳萬錕指出,3 納米測試復雜,主要因為高效能運算(HPC)芯片設計復雜度提高,測試時間拉長,帶動測試設備需求增加,預期相關設備將從今年持續準備到明年。

  市場對 2023-2024 年的測試設備需求預估成長將趨緩,吳萬錕表示,主要受先進制程推進時程影響,預期 2 納米先進制程可能在 2024 年試產,量產落在 2025 年,愛德萬在先進芯片測試設備可延伸到 2 納米先進制程,預期帶動測試設備需求恢復成長動能可期。

  化合物半導體測試部分,吳萬錕表示,愛德萬測試正在與國際大廠在碳化矽(SiC)領域展開合作中,目前與中國臺灣廠商還沒有相關的合作,主要因需求還不多,要實質達量產需要一段時間。


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